光伏組件pid測(cè)試介紹
 

　　PID是Potential Induced Degradation的縮寫，指的是組件電勢(shì)誘導(dǎo)衰減(也叫電位誘發(fā)衰減)。PID是電池組件長(zhǎng)期在高電壓作用下，使玻璃、封裝材料之間存在漏電流，大量電荷聚集在電池片表面，使得電池表面的鈍化效果變差，易使產(chǎn)生的光生載流子復(fù)合，從而導(dǎo)致組件性能低于設(shè)計(jì)標(biāo)準(zhǔn)。PID現(xiàn)象嚴(yán)重時(shí)，會(huì)引起一塊組件功率衰減50%以上，從而影響整個(gè)組串的功率輸出。高溫、高濕、高鹽堿的沿海地區(qū)最易發(fā)生PID現(xiàn)象。中科檢測(cè)開展光伏組件pid測(cè)試服務(wù)，具備CMA、CNAS資質(zhì)認(rèn)證。
 

　　光伏組件pid測(cè)試方法
 

　　PID測(cè)試有兩種加速老化的方法：
 

　　1)在特定的溫度、濕度下，在組件玻璃表面覆蓋鋁箔、銅箔或者濕布，在組件的輸出端和表面覆蓋物之間施加電壓一定的時(shí)間。
 

　　2)在85%濕度85℃或者是60℃或85℃的環(huán)境下將-1000V直流電施加在組件輸出端和鋁框上48~96小時(shí)。
 

　　光伏組件pid測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)
 

　　PID 測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)引自 IEC 62804 (Draft) 根據(jù)IEC61730-2 MST 01進(jìn)行外觀檢測(cè)；
 

　　根據(jù)IEC61215第二版進(jìn)行最大功率測(cè)試；
 

　　根據(jù)IEC61215第二版條目10.15進(jìn)行濕漏電流測(cè)試；
 

　　如果組件有裸露的導(dǎo)電部位，則要根據(jù)IEC61730-2 MST13進(jìn)行接地連續(xù)性測(cè)試